DCNTS相位噪声测试系统

——新一代双核高端相位噪声测试方案，-195dBc/Hz测试本底

DCNTS是双通道相位噪声测试系统，是新一代相位噪声测试最高水平的代表。双鉴相器设计使其能够运用互相关技术充分降低系统测试本底，既保持了单通道的优点，又发挥了双通道系统更低的本底噪声的优势，是计量和晶振用户的首选测试方案。同时，DCNTS亦可像单通道系统一样，进行脉冲调制信号的测试和双端口或多端口器件附加本底噪声的测试。

技术指标

● 频率范围：2MHz～1.8/26.5/40/50GHz

● 频偏分析范围：0.01Hz～40MHz

● 测量精度：频偏<MHz, ±2dB; 频偏>1MHz，±3dB

● 互相关次数：1 ~ 10,000

● 内置计数器：被测件和参考本振：2MHz～2GHz

中频/拍频：0.3Hz～400kHz

● 本底噪声：频偏≥100kHz, -195dBc/Hz

主要选件与PN9000C基本相同